Zobrazeno 1 - 10
of 700
pro vyhledávání: '"ZANETTI E."'
Autor:
Fiorenza, P., Cordiano, F., Alessandrino, S. M., Russo, A., Zanetti, E., Saggio, M., Bongiorno, C., Giannazzo, F., Roccaforte, F.
The gate oxide lifetime in 4H-SiC power MOSFETs is typically assessed at fixed and constant gate bias stress, monitoring the time-dependent dielectric breakdown (TDDB).
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.19545
Autor:
Fiorenza, P., Alessandrino, M., Carbone, B., Di Martino, C., Russo, A., Saggio, M., Venuto, C., Zanetti, E., Bongiorno, C., Giannazzo, F., Roccaforte, F.
Publikováno v:
Materials Science Forum 1004, (2020) 433-438
In this work, the origin of the dielectric breakdown of 4H-SiC power MOSFETs was studied at the nanoscale, analyzing devices that failed after extremely long (three months) of high temperature reverse bias (HTRB) stress. A one-to-one correspondence b
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2009.04846
Autor:
Fiorenza, P., Alessandrino, M., Carbone, B., Di Martino, C., Russo, A., Saggio, M., Venuto, C., Zanetti, E., Giannazzo, F., Roccaforte, F.
Publikováno v:
Nanotechnology 31, (2020) 125203
The origin of dielectric breakdown was studied on 4H-SiC MOSFETs that failed after three months of high temperature reverse bias (HTRB) stress. A local inspection of the failed devices demonstrated the presence of a threading dislocation (TD) at the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2009.04835
Publikováno v:
International Journal on Interactive Design & Manufacturing; Oct2024, Vol. 18 Issue 8, p5991-6011, 21p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Physics: Conference Series; 2024, Vol. 2766 Issue 1, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Physics: Conference Series; Dec2023, Vol. 2685 Issue 1, p1-8, 8p