Zobrazeno 1 - 10
of 180
pro vyhledávání: '"Z.Z. Zhao"'
Publikováno v:
Electrochemistry Communications, Vol 116, Iss , Pp 106765- (2020)
In this paper, PtAuFe/C composite catalyst and Pt/C catalyst are prepared by sodium borohydride direct reduction method. The physical properties of the catalysts are characterized by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscope (SEM) and ene
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/841b321e05c14c34ad6ce0053c2f86fc
Publikováno v:
Clinical radiology. 77(6)
To evaluate the role of dual-energy computed tomography perfusion (DECTP) imaging in differentiating invasive thymomas (ITs), thymic cancers (TCs), and lymphomas in adults.Ninety-five patients with solid masses in the prevascular mediastinum who unde
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acta Horticulturae. :271-274
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Electrochemistry Communications, Vol 116, Iss, Pp 106765-(2020)
In this paper, PtAuFe/C composite catalyst and Pt/C catalyst are prepared by sodium borohydride direct reduction method. The physical properties of the catalysts are characterized by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscope (SEM) and ene