Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"Z. Tanveer"'
Autor:
Beriham Basha, Jolly Jacob, Z. Tanveer, A. Ali, N. Amin, K. Javaid, Salma Ikram, K. Mahmood, Aqrab ul Ahmad, M.S. Al-Buriahi, Z.A. Alrowaili, Hongchao Wang, Yuqing Sun
Publikováno v:
Journal of Materials Research and Technology, Vol 25, Iss , Pp 265-272 (2023)
This research is carried out to establish a link between thermoelectric properties of Copper Nitride (Cu3N) thin films with its growth parameters. A series of Cu3N thin films is synthesized by thermal evaporation technique on glass substrate using di
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/05ca0980a2f84b4e86c5c574442924fc
Autor:
Baig z, Tanveer, Shastry, Chandrasekar
Publikováno v:
In Procedia Computer Science 2023 218:2563-2574
Autor:
Ather, Danish, Z., Tanveer Baig, Agarwal, Ambuj Kumar, Quraishi, Suhail Javed, singh, Malikhan, Kher, Rajeesh
Publikováno v:
Journal of Intelligent Systems & Internet of Things; 2025, Vol. 14 Issue 1, p265-277, 13p
Autor:
Chandrasekar Shastry, Z. Tanveer Baig
Publikováno v:
Scalable Computing: Practice and Experience. 23:339-349
Wireless sensor networks (WSN) have been exploited for {countless} application domains, most notably the surveillance of environments and habitats, which has already become a critical mission. As a result, WSNs have been implemented to monitor animal
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optik. 265:169383
Publikováno v:
Scalable Computing: Practice & Experience; Dec2022, Vol. 23 Issue 4, p339-349, 11p