Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Z El Kaakour"'
Publikováno v:
Surface Science. 317:321-340
Atomic force microscopy (AFM) has been developed as a tool for investigating any type of surface at an atomic scale. Since then, except for particular surfaces exhibiting an atomic roughness, we know that the finite size of the tip does not allow us
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.