Evidence for hydrogen two-level systems in atomic layer deposition oxides

Autor: Khalil, M. S., Stoutimore, M. J. A., Gladchenko, S., Holder, A. M., Musgrave, C. B., Kozen, A. C., Rubloff, G., Liu, Y. Q., Gordon, R. G., Yum, J. H., Banerjee, S. K., Lobb, C. J., Osborn, K. D.

Publikováno v: Appl. Phys. Lett. 103, 162601 (2013)

Two-level system (TLS) defects in dielectrics are known to limit the performance of electronic devices. We study TLS using millikelvin microwave loss measurements of three atomic layer deposited (ALD) oxide films--crystalline BeO ($\rm{c-BeO}$), amor

Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/1307.7664

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Pyridyl- and Picolinic Acid Substituted Zinc(II) Phthalocyanines for Dye-Sensitized Solar Cells

Autor: Suanzes Pita J., Urbani M., Bottari G., Ince M., Kumar S.A., Chandiran A.K., Yum J.-H., Grätzel M., Nazeeruddin M.K., Torres T.

Publikováno v: Repositorio Institucional del Instituto Madrileño de Estudios Avanzados en Nanociencia
Instituto Madrileño de Estudios Avanzados en Nanociencia (IMDEA Nanociencia)

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=RECOLECTA___::80f8b25bbdfcba2b3f335d10d0ff7d46
http://hdl.handle.net/20.500.12614/1289