Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"Yukumatsu, Kazuki"'
Publikováno v:
In Acta Astronautica December 2024 225:812-820
Publikováno v:
In Acta Astronautica January 2024 214:781-789
Publikováno v:
In Acta Astronautica November 2023 212:70-83
MDM: A flight mission to observe materials degradation in-situ on satellite in super low Earth orbit
Publikováno v:
In Acta Astronautica February 2021 179:695-701
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yukumatsu, Kazuki, Mori, Kazuyuki, Yamane, Shogo, Oishi, Akihiro, Nakamura, Sayaka, Chen, Liang, Hagihara, Hideaki, Mizukado, Junji, Sato, Hiroaki
Publikováno v:
宇宙航空研究開発機構特別資料: 第15回「宇宙環境シンポジウム」講演論文集 = JAXA Special Publication: Proceedings of the 15th Spacecraft Environment Symposium. :155-158
第15回宇宙環境シンポジウム (2018年10月30日-31日. 東北大学青葉サイエンスホール), 仙台市, 宮城県
形態: カラー図版あり
Physical characteristics: Original contains color illustrations
資料番
形態: カラー図版あり
Physical characteristics: Original contains color illustrations
資料番
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::981f22142f709c2579bcbc3d815b35d9
http://id.nii.ac.jp/1696/00002903/
http://id.nii.ac.jp/1696/00002903/
Autor:
NAGAMATSU, Aiko, MATSUMOTO, Haruhisa, UENO, Haruka, AIDA, Mari, YUKUMATSU, Kazuki, TAKASHIMA, Takeshi, FUJII, Masayuki, HIROSE, Takayuki
Publikováno v:
第21回宇宙科学シンポジウム 講演集 = Proceedings of the 21st Space Science Symposium.
第21回宇宙科学シンポジウム (2021年1月6日-7日. オンライン開催)
21st Space Science Symposium (January 6-7, 2021. Online Meeting)
著者人数: 13名
資料番号: SA6000163097
レポート番号: g10-13
21st Space Science Symposium (January 6-7, 2021. Online Meeting)
著者人数: 13名
資料番号: SA6000163097
レポート番号: g10-13
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::61e41075deb97ff5cfb659ddf37d2540
http://id.nii.ac.jp/1696/00047895/
http://id.nii.ac.jp/1696/00047895/
Autor:
Takeuchi, Kozo, Kato, Takashi, Sakamoto, Keita, Yukumatsu, Kazuki, Watanabe, Kyota, Tsuchiya, Yuta, Matsuyama, Hideya, Takeyama, Akinori, Ohshima, Takeshi, Kuboyama, Satoshi, Shindo, Hiroyuki
Characteristics of single event effects on 14/16-nm bulk FinFETs and static random access memories (SRAM) composed of them were investigated in terms of single-bit upsets and multiple-cell upsets. The single-bit and multiple-cell upsets are analyzed
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4b5e172bd60ec7ee84f4e26b731fe766
https://repo.qst.go.jp/records/82422
https://repo.qst.go.jp/records/82422
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
CEAS Space Journal; Jul2021, Vol. 13 Issue 3, p415-432, 18p