Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Yuan Sheng-jun"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yu Hongxin, Tie-zhu Chen, Zhang Youqiang, Yang Zhi-fan, Hu Lin, Liu Zujian, He Shengzong, Yuan Sheng-jun, Jiayong Zhong
Publikováno v:
2017 18th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT).
This paper collected and classified the failure modes and mechanisms of quartz crystals from actual engineering application. Through related failure analysis cases, combined with scanning electron microscopy and energy spectrum analysis, failure anal
Publikováno v:
2017 18th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT).
Merging units used in intelligent substation presented a considerable high field failure rate. To reveal the potential defects, highly accelerated life test was studied to solve the problem. The possible reasons for the poor reliability were discusse
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.