Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Yoshihide Ajioka"'
Autor:
Mitsutoshi Shirota, Tatsuya Kunikiyo, Masayuki Terai, Toshiki Kanamoto, Yasutaka Horiba, Yoshihide Ajioka, Tetsuya Watanabe, K. Ishikawa
Publikováno v:
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences. :3463-3470
This paper proposes a new non-destructive methodology to estimate physical parameters for LSIs. In order to resolve the estimation accuracy degradation issue for low-k dielectric films, we employ a parallel-plate capacitance measurement and a wire re
Autor:
Mitsutoshi Shirota, Yasuo Inoue, Tetsuya Watanabe, Shuhei Iwade, Toshiki Kanamoto, Tatsuya Kunikiyo, Yoshihide Ajioka, H. Asazato, H. Makino, K. Eikyu, K. Ishikawa
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 51:726-735
We present a new test structure measuring inter- and intralayer coupling capacitance parasitic to the same target interconnection with subfemtofarad resolution. The coupling capacitance as well as fringing capacitance measured by the test structure a
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.