Zobrazeno 1 - 10
of 16
pro vyhledávání: '"Yoshihide Ajioka"'
Autor:
Mitsutoshi Shirota, Tatsuya Kunikiyo, Masayuki Terai, Toshiki Kanamoto, Yasutaka Horiba, Yoshihide Ajioka, Tetsuya Watanabe, K. Ishikawa
Publikováno v:
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences. :3463-3470
This paper proposes a new non-destructive methodology to estimate physical parameters for LSIs. In order to resolve the estimation accuracy degradation issue for low-k dielectric films, we employ a parallel-plate capacitance measurement and a wire re
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d43c0283746a55f3a96a408e45dbe4e0
https://doi.org/10.1093/ietfec/e88-a.12.3463
https://doi.org/10.1093/ietfec/e88-a.12.3463
Autor:
Mitsutoshi Shirota, Yasuo Inoue, Tetsuya Watanabe, Shuhei Iwade, Toshiki Kanamoto, Tatsuya Kunikiyo, Yoshihide Ajioka, H. Asazato, H. Makino, K. Eikyu, K. Ishikawa
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 51:726-735
We present a new test structure measuring inter- and intralayer coupling capacitance parasitic to the same target interconnection with subfemtofarad resolution. The coupling capacitance as well as fringing capacitance measured by the test structure a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::71a72145cc2a834e6decc0756b583385
https://doi.org/10.1109/ted.2004.826899
https://doi.org/10.1109/ted.2004.826899
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kumaki, S., Takata, H., Ajioka, Y., Ooishi, T., Ishihara, K., Hanami, A., Tsuji, T., Kanehira, Y., Watanabe, T., Morishima, C., Yoshizawa, T., Sato, H., Hattori, S., Koshio, A., Tsukamoto, K., Matsumura, T.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2001 Custom Integrated Circuits Conference (Cat. No.01CH37169); 2001, p425-428, 4p
Autor:
Matsumura, T., Segawa, H., Matsuura, S.K.Y., Hanami, A., Yamaoka, H., Streitenberger, R., Nakagawa, S., Ishihara, K., Kasezawa, T., Ajioka, Y., Maeda, A., Yoshimoto, M.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 1995 Custom Integrated Circuits Conference; 1995, p393-396, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; May2004, Vol. 51 Issue 5, p726-735, 10p
Autor:
Kumaki, S., Takata, H., Ajioka, Y., Ooishi, T., Ishihara, K., Hanami, A., Tsuji, T., Watanabe, T., Morishima, C., Yoshizawa, T., Sato, H., Hattori, S., Koshio, A., Tsukamoto, K., Matsumura, T.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; Mar2002, Vol. 37 Issue 3, p450-454, 5p