Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Yoshida, Yukifumi"'
Autor:
Miyamoto, Yasuharu, Yoshida, Yukifumi, Utsunomiya, Toru, Kunieda, Shogo, Ueda, Yusuke, Sanada, Masakazu, Sugimura, Hiroyuki
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2023, Vol. 346 Issue: 1 p216-221, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Physics Express; Jan2021, Vol. 14 Issue 1, p1-5, 5p
Autor:
Liesbeth Witters, Stefan De Gendt, Frank Holsteyns, Farid Sebaai, Paul Mertens, Yoshida Yukifumi
Publikováno v:
Solid State Phenomena. 219:105-108
of high mobility channels materials like Ge. The introduction of Ge as channel material has already shown significant interests in term of device performance enhancement [1,2]. However, the use of Ge in CMOS integration has raised new challenges in t
Autor:
Qiu, Xuchun, Shimasaki, Yohei, Yoshida, Yukifumi, Matsubara, Tadashi, Yamasaki, Yasuhiro, Kawaguchi, Mayumi, Honda, Masato, Mouri, Kentaro, Nakajima, Yu, Tasmin, Rumana, Kuno, Katsutoshi, Kawamura, Yoshio, Honjo, Tsuneo, Ohshima, Yuji
Publikováno v:
Journal of the Faculty of Agriculture, Kyushu University. 59(2):373-382
Autor:
Yoshida, Yukifumi, Akiyama, Katsuya, Zhang, Song, Ueda, Dai, Inaba, Masaki, Takahashi, Hiroaki
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; February 2021, Vol. 314 Issue: 1 p222-227, 6p
Autor:
Iwahata, Shota, Yoshida, Yukifumi, Komori, Kana, van, Dennis H., Wostyn, Kurt, Sebaai, Farid, Holsteyns, Frank
Publikováno v:
ECS Transactions; July 2019, Vol. 92 Issue: 2 p13-19, 7p
Autor:
Komori, Kana, Rip, Jens, Yoshida, Yukifumi, Wostyn, Kurt, Sebaai, Farid, Liu, Wen Dar, Lee, Yi Chia, Sekiguchi, Ryo, Mertens, Hans, Hikavyy, Andriy, Holsteyns, Frank, Horiguchi, Naoto
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2018, Vol. 282 Issue: 1 p107-112, 6p
Autor:
Liu, Wen Dar, Lee, Yi Chia, Sekiguchi, Ryo, Yoshida, Yukifumi, Komori, Kana, Wostyn, Kurt, Sebaai, Farid, Holsteyns, Frank
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2018, Vol. 282 Issue: 1 p101-106, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.