Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Yoon Yeogeon"'
Autor:
Jung, Yun Ku, Ko, Yunhyuk, Park, Chulsoon, Noh, Seunguk, Kim, Yongil, Kim, Sehun, Ha, Jaekook, Yoon, Yeogeon
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; Jun2023, Vol. 54 Issue 1, p1162-1165, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Thin Solid Films. 542:426-429
MSi2/Si(111) (M = Co, Ni) crystallographic interface structure influenced metal-induced lateral crystallization (MILC) significantly. MILC growth with Ni, wherein only half the Si atoms in NiSi2 are required to change positions, was preferred to that
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::26c308809b36af6397f88c460d87ca92
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2013.07.029
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2013.07.029
Autor:
Yongwoo Lee, Nak-Cho Choi, MunPyo Hong, Byoung-Ho Cheong, Yoo Dongil, Jonghak Hwang, Yoon Yeogeon
Publikováno v:
Materials Research Express. 5:095312
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::714976c34cc79de53325db8ab93d2b91
https://doi.org/10.1088/2053-1591/aad992
https://doi.org/10.1088/2053-1591/aad992
Publikováno v:
Thin Solid Films. 460:41-47
Vanadium oxide thin films were grown at room temperature by direct current and radio-frequency reactive sputtering systems to compare the structural and electrochemical properties. Rutherford backscattering spectrometry and Fourier transform infrared
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::769ad3f9e3de502501d6f2125223d2df
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2004.01.075
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2004.01.075