Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Yoon, DongGwan"'
1
Akademický článek
Mechanical stress in a tapered channel hole of 3D NAND flash memory
Autor: Yoon, DongGwan, Sim, JaeMin, Song, YunHeub
Publikováno v: In Microelectronics Reliability April 2023 143
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje