Zobrazeno 1 - 10
of 14
pro vyhledávání: '"Yoo, Hak Do"'
Autor:
Jiang, Wenkan, Ehrentraut, Dirk, Downey, Bradley C., Kamber, Derrick S., Pakalapati, Rajeev T., Yoo, Hak Do, D’Evelyn, Mark P.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1 October 2014 403:18-21
The study on the radial distribution of delta [Oi] in heavily doped Si wafer using X-ray diffraction
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 6 February 2001 4(1-3):47-49
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 2000 213(1):57-62
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1999 198 Part 1:120-124
Publikováno v:
Korean Journal of Chemical Engineering; May2001, Vol. 18 Issue 3, p342-346, 5p
Publikováno v:
Korean Journal of Chemical Engineering; Jan2001, Vol. 18 Issue 1, p81-87, 7p
Autor:
D, Mark P., Ehrentraut, Dirk, Jiang, Wenkan, Kamber, Derrick S., Downey, Bradley C., Pakalapati, Rajeev T., Yoo, Hak Do
Publikováno v:
ECS Transactions; August 2013, Vol. 58 Issue: 4 p287-294, 8p
Publikováno v:
Analytical Sciences; May 2001, Vol. 17 Issue: 5 p653-658, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
D'Evelyn, Mark P., Ehrentraut, Dirk, Jiang, Wenkan, Kamber, Derrick S., Downey, Bradley C., Pakalapati, Rajeev T., Yoo, Hak Do
Publikováno v:
ECS Transactions; August 2013, Vol. 58 Issue: 4