Zobrazeno 1 - 10
of 86
pro vyhledávání: '"Yokogawa, Shinji"'
Autor:
Ishigaki, Yo1 (AUTHOR) ishigaki@uec.ac.jp, Yokogawa, Shinji2 (AUTHOR)
Publikováno v:
PLoS ONE. 5/23/2024, Vol. 19 Issue 5, p1-12. 12p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Oshida, Daisuke, Kume, Ippei, Katsuyama, Hirokazu, Ueki, Makoto, Iguchi, Manabu, Yokogawa, Shinji, Inoue, Naoya, Oda, Noriaki, Sakurai, Michio
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 April 2014 118:72-78
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Usami, Tatsuya, Miura, Yukio, Nakamura, Tomoyuki, Tsuchiya, Hideaki, Kobayashi, Chikako, Ohto, Koichi, Hiroshima, Shoichi, Tanaka, Mikio, Kunishima, Hiroyuki, Ishizuka, Issei, Kuwajima, Teruhiro, Sakurai, Michio, Yokogawa, Shinji, Fujii, Kunihiro
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering December 2013 112:97-102
Autor:
Suzuki, Kazuyuki1 (AUTHOR) suzuki@uec.ac.jp, Yokogawa, Shinji2 (AUTHOR) yokogawa@uec.ac.jp
Publikováno v:
International Journal of Reliability, Quality & Safety Engineering. Jun2020, Vol. 27 Issue 3, pN.PAG-N.PAG. 17p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tsuchiya, Hideaki, Yokogawa, Shinji
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1415-1420