Výsledky vyhledávání - "Yo‐Chang Liao"

High‐speed TFT LCD defect‐detection system with genetic algorithm

Autor: Chern-Sheng Lin, Yun-Long Lay, Mau-Shiun Yeh, Kun‐Chen Lee, Yo‐Chang Liao

Publikováno v: Assembly Automation. 28:69-76

PurposeThe purpose of this research is to develop an automatic optical inspection system for thin film transistor (TFT) liquid crystal display (LCD).Design/methodology/approachA new algorithm that accounts for the closing, opening, etching, dilating,

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0dd97c1abf4ccabd0504b347e961a3ae
https://doi.org/10.1108/01445150810849037

Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání