Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Yim, John T."'
The sputtering of hexagonal boron nitride due to low energy xenon ion bombardments occurs in various applications including fabrication of cubic boron nitride and erosion of Hall thruster channel walls. At low ion energies, accurate experimental char
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0802.1960
Autor:
Hall, Scott J., Gray, Timothy G., Yim, John T., Choi, Maria, Sarver-Verhey, Timothy R., Kamhawi, Hani
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 9/21/2021, p1-13, 13p
Autor:
Boyd, Lain D., Yim, John T.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/1/2004, Vol. 95 Issue 9, p4575-4584, 10p, 1 Chart, 21 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
McLean, Christopher H., Viesca, Silvia Giron, Deininger, William D., Unruh, Bryce W., Spores, Ronald A., Frate, David T., Yim, John T., Johnson, Wesley L., Aggarwal, Pravin K., Reed, Brian D.
Publikováno v:
2014 IEEE Aerospace Conference; 2014, p1-20, 20p