Zobrazeno 1 - 10
of 266
pro vyhledávání: '"Yeong, K."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2022 135
Analyses on the large size PBGA packaging reliability under random vibrations for space applications
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability June 2020 109
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2017 79:328-335
Publikováno v:
Journal of Frailty & Aging; Jul2023, Vol. 12 Issue 3, p231-235, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability October 2022 137
Publikováno v:
In Procedia Engineering 2011 10:1029-1034
Autor:
Lewis, Amy, Sarkar, Binoy, Wade, Peter, Kemp, S, Hodson, Mark Edward, Taylor, Lyla, Yeong, K. Loong, Davies, Kalu, Nelson, Paul, Bird, Michael, Kantola, Ilsa, Masters, Michael, DeLucia, Evan, Leake, Jonathan, Banwart, Steve, Beerling, David
Mafic igneous rocks, such as basalt, are composed of abundant calcium- and magnesium-rich silicate minerals widely proposed to be suitable for scalable carbon dioxide removal (CDR) by enhanced rock weathering (ERW). Here, we report a detailed charact
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=core_ac_uk__::49c671c20c5073c0491ce675fd185a3c
https://eprints.whiterose.ac.uk/174834/1/BasaltCDR_manuscript_R2_270521_manuscript_without_revisions.docx
https://eprints.whiterose.ac.uk/174834/1/BasaltCDR_manuscript_R2_270521_manuscript_without_revisions.docx
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 137:114781
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 135:114602