Zobrazeno 1 - 10
of 52
pro vyhledávání: '"Ye, Weinan"'
The Hubbard and related models serve as a fundamental starting point in understanding the novel experimental phenomena in correlated electron materials, such as superconductivity, Mott insulator, magnetism and stripe phases. Recent numerical simulati
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2303.14723
Publikováno v:
In Measurement August 2023 217
Publikováno v:
In Optics and Lasers in Engineering March 2023 162
Publikováno v:
In Precision Engineering November 2019 60:413-420
Autor:
Ye, Weinan1,2 (AUTHOR) yewn@tsinghua.edu.cn, Cheng, Rong1,2 (AUTHOR) chengr@mail.tsinghua.edu.cn, Zhang, Ming1,2 (AUTHOR) zhangm@tsinghua.edu.cn, Zhu, Yu1,2 (AUTHOR) zhuyu@tsinghua.edu.cn, Wang, Leijie1,2 (AUTHOR) hujinchun@tsinghua.edu.cn, Hu, Jinchun1,2 (AUTHOR) lixin_09@mail.tsinghua.edu.cn, Li, Xin1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). May2022, Vol. 22 Issue 10, p3738-3738. 9p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Precision Engineering. 60:413-420
For ultra-precision wafer stage measurement in a photolithography scanner, real-time six-degree-of-freedom displacement calculation and offline geometric calibration methods are proposed to solve the multiple nonlinearities caused by rotation-transla
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.