Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Yaung, D.N."'
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2001 382(1):271-274
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2000 44(11):1997-2000
Autor:
Hsu, T.H., Fang, Y.K., Yaung, D.N., Wuu, S.G., Chien, H.C., Wang, C.S., Lin, J.S., Tseng, C.H., Chen, S.F., Lin, C.S., Lin, C.Y.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jun2004, Vol. 25 Issue 6, p427-429, 3p, 4 Graphs
Autor:
Hsu, T.H., Fang, Y.K., Yaung, D.N., Wuu, S.G., Chien, H.C., Wang, C.S., Lin, J.S., Tseng, C.H., Chen, S.F., Lin, C.S., Lin, C.Y.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jun2004, Vol. 25 Issue 6, p375-377, 3p, 1 Black and White Photograph, 2 Diagrams, 3 Graphs
Autor:
Hsu, T.H., Fang, Y.K., Lin, C.Y., Chen, S.F., Lin, C.S., Yaung, D.N., Wuu, S.G., Chien, H.C., Tseng, C.H., Lin, J.S., Wang, C.S.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jan2004, Vol. 25 Issue 1, p22-24, 3p, 2 Diagrams, 2 Graphs
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jan2001, Vol. 22 Issue 1, p23-25, 3p
Autor:
Yaung, D.N., Fang, Y.K., Hwang, K.C., Lee, K.Y., Wu, K.H., Ho, J.J., Chen, C.Y., Wang, Y.J., Liang, M.S., Lee, J.Y., Wuu, S.G.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1998, Vol. 19 Issue 11, p429-431, 3p
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1995, Vol. 16 Issue 5, p193-195, 3p
Autor:
Liu, J.C., Yaung, D.N., Sze, J.J., Wang, C.C., Hung, Gene., Wang, C.J., Hsu, T.H., Lin, R.J., Wang, T.J., Wang, W.D., Cheng, H.Y., Lin, J.S., Tsai, S.J., Tsai, S.T., Chuang, C.C., Hsu, W.I., Chen, S.Y., Huang, K.C., Wu, W.H., Takahashi, S.
Publikováno v:
2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers; 2014, p1-2, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.