Zobrazeno 1 - 10
of 56
pro vyhledávání: '"Yau, Kenneth"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yau, Kenneth Hoi Kan
This thesis presents the theoretical and experimental framework for the development of accurate on-wafer S-parameter and noise parameter measurements of silicon devices in the upper millimetre-wave frequency range between 70 GHz and 300 GHz. Novel in
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1807/31984
Autor:
Yau, Kenneth Hoi Kan.
Thesis (M.A. Sc.)--University of Toronto, 2006.
Source: Masters Abstracts International, Volume: 44-06, page: 2940. Advisor: Sorin P. Voinigescu.
Source: Masters Abstracts International, Volume: 44-06, page: 2940. Advisor: Sorin P. Voinigescu.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vallabh, Neeru Amrita, Mohindra, Ravi, Drysdale, Elizabeth, Mason, Fiona, Fenerty, Cecilia H., Yau, Kenneth
Publikováno v:
Graefe's Archive of Clinical & Experimental Ophthalmology; Aug2023, Vol. 261 Issue 8, p2351-2358, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Koh, Stephen S, Opel, Michael L, Wei, Jia-Perng J, Yau, Kenneth, Shah, Rashmi, Gorre, Mercedes E, Whitman, Eric, Shitabata, Paul K, Tao, Yong, Cochran, Alistair J, Abrishami, Payam, Binder, Scott W
Publikováno v:
In Modern Pathology April 2009 22(4):538-546
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.