Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"Yao, Linshen"'
Publikováno v:
In Optik - International Journal for Light and Electron Optics February 2017 131:724-732
Publikováno v:
In Optics and Lasers in Engineering August 2016 83:99-105
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
1998 5th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.98EX105).
A new method for analog integrated circuit fault parameter diagnosis is presented in this paper. It is based on neural network theory and has several advantages over normal methods. The method is applied to several examples and it works very well.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cff315674b3c5279e9a34d711fd79b64
https://doi.org/10.1109/icsict.1998.785901
https://doi.org/10.1109/icsict.1998.785901
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2016, Vol. 10023 Issue: 1 p100231Q-100231Q-9, 902089p
Publikováno v:
1998 5th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology Proceedings (Cat No98EX105); 1998, p381-384, 4p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.