Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"Yang TG"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kim J; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea.; Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, 02139, USA.; Department of Electrical and Computer Engineering and Inter-university Semiconductor Research Center, Seoul National University, Seoul, 08826, Republic of Korea., Park EC; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea., Shin W; Department of Electrical and Computer Engineering and Inter-university Semiconductor Research Center, Seoul National University, Seoul, 08826, Republic of Korea.; Department of Semiconductor Convergence Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, 16419, Republic of Korea., Koo RH; Department of Electrical and Computer Engineering and Inter-university Semiconductor Research Center, Seoul National University, Seoul, 08826, Republic of Korea., Han CH; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea., Kang HY; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea., Yang TG; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea., Goh Y; Semiconductor Research and Development Center, Samsung Electronics, Hwaseong, Republic of Korea., Lee K; Semiconductor Research and Development Center, Samsung Electronics, Hwaseong, Republic of Korea., Ha D; Semiconductor Research and Development Center, Samsung Electronics, Hwaseong, Republic of Korea., Cheema SS; Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, 02139, USA. sscheema@mit.edu., Jeong JK; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea. jkjeong1@hanyang.ac.kr., Kwon D; Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea. dw79kwon@hanyang.ac.kr.
Publikováno v:
Nature communications [Nat Commun] 2024 Oct 23; Vol. 15 (1), pp. 9147. Date of Electronic Publication: 2024 Oct 23.
