Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Yang, Honghua U."'
Autor:
Yang, Honghua U., Raschke, Markus B.
Nanoscale forces play an important role in different scanning probe microscopies, most notably atomic force microscopy (AFM). In contrast, in scanning near-field optical microscopy (SNOM) a light-induced coupled local optical polarization between tip
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1508.06358
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Muller, Eric A., Pollard, Benjamin, Bechtel, Hans A., Adato, Ronen, Yang, Honghua U., Martin, Michael C., Altug, Hatice, Raschke, Markus B.
Publikováno v:
2015 Conference on Lasers & Electro-Optics (CLEO); 2015, p1-2, 2p
Autor:
Atkin, Joanna M., Sass, Paul M., Yang, Honghua U., Teichen, Paul, Eaves, Joel, Raschke, Markus B.
Publikováno v:
2015 Conference on Lasers & Electro-Optics (CLEO); 2015, p1-2, 2p