Zobrazeno 1 - 10
of 25
pro vyhledávání: '"Yamato, Yuta"'
Autor:
Wen, Xiaoqing, Yamato, Yuta, Miyase, Kohei, Kajihara, Seiji, Furukawa, Hiroshi, Wang, Laung-Terng, Saluja, Kewal K., Kinoshita, Kozo
Publikováno v:
7th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT`06). :55-60
Per-test diagnosis based on the X-fault model is an effective approach for a circuit with physical defects of nondeterministic logic behavior. However, the extensive use of vias and the unpredictable order relation among threshold voltages at fanout
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::b5d3b3e200f86526005c140dce3200a7
https://kyutech.repo.nii.ac.jp/records/6376
https://kyutech.repo.nii.ac.jp/records/6376
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Michael A. Kochte, Miyase, Kohei, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji, Yamato, Yuta, Enokimoto, Kazunari, Wunderlich, Hans-Joachim
Publikováno v:
IEEE/ACM International Symposium on Low Power Electronics and Design.
Excessive power dissipation during VLSI testing results in over-testing, yield loss and heat damage of the device. For low power devices with advanced power management features and more stringent power budgets, power-aware testing is even more mandat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2cc73dd3ad319b29c9ac63a1191e28b7
https://doi.org/10.1109/islped.2011.5993600
https://doi.org/10.1109/islped.2011.5993600
Autor:
Holst, Stefan, Schneider, Eric, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji, Yamato, Yuta, Wunderlich, Hans-Joachim, Kochte, Michael A.
Publikováno v:
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS); 2016, p19-24, 6p
Publikováno v:
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium; 2014, p292-297, 6p
Effects of feed gas flow path on ozone generation characteristics using nanosecond pulsed discharge.
Publikováno v:
2014 International Conference on Connected Vehicles & Expo (ICCVE); 2014, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.