Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Y. S. Chieh"'
Publikováno v:
Journal of The Electrochemical Society. 141:1585-1589
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 39:1882-1888
The electrical behavior of shallow silicide-to-silicon ohmic contacts has been evaluated for lateral dimensions to 50 nm. Trench-isolated series resistance test structures were fabricated using TiSi/sub 2/ self-aligned contact technology. Resistance
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rydberg, Mattias, Zimmerman, Malin, Gottsäter, Anders, Eeg-Olofsson, Katarina, Dahlin, Lars B.
Publikováno v:
Diabetes Care; Nov2022, Vol. 45 Issue 11, p2669-2674, 6p
Autor:
Wang, Chih-Hung, Lee, Gwo-Bin
Publikováno v:
Biomicrofluidics; Mar2020, Vol. 14 Issue 2, p1-8, 8p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Mar2002, Vol. 49 Issue 3, p467, 6p, 1 Diagram, 2 Charts, 10 Graphs
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Mar2002, Vol. 49 Issue 3, p457, 10p, 2 Diagrams, 8 Graphs
Publikováno v:
Molecular Physics; Feb1980, Vol. 39 Issue 3, p715-723, 9p
Publikováno v:
Acta Crystallographica: Section C (Wiley-Blackwell); Nov1992, Vol. 48 Issue 11, p2009-2013, 5p