Zobrazeno 1 - 10
of 84
pro vyhledávání: '"Y. Fukuzaki"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
T. Rupp, N. Chaudhary, K. Dev, Y. Fukuzaki, J. Gambino, H. Ho, J. Iba, E. Ito, E. Kiewra, B. Kim, M. Maldei, T. Matsunaga, J. Ning, R. Rengarajan, A. Sudo, Y. Takagawa, D. Tobben, M. Weybright, G.K. Worth, R. Divakaruni, R. Srinivasan, J. Alsmeier, G. Bronner
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318).
This report describes improvements in the trench DRAM technology for 0.15 /spl mu/m groundrule and beyond. The optimum cell layout is 8F/sup 2/ with a cell area of only 0.18 /spl mu/m/sup 2/ for a 0.15 /spl mu/m groundrule. High node capacitance and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ed00c229eb73a4da1dfeb395b2a184e6
https://doi.org/10.1109/iedm.1999.823840
https://doi.org/10.1109/iedm.1999.823840
Publikováno v:
Digest of Technical Papers.1990 Symposium on VLSI Technology.
The effects of heat treatments on the reliability of ultrathin gate oxide and the mechanism of the reliability degradation are described. Dielectric breakdown reliability of ultrathin tunneling oxide for various post-annealing conditions is discussed
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::93ff35f3ad2a4fbe4f74437fc120dc2c
https://doi.org/10.1109/vlsit.1990.111038
https://doi.org/10.1109/vlsit.1990.111038
Publikováno v:
Seibutsu Butsuri. 44:S59
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6fa82a82721fc1a52b7f54197f73b1ac
https://doi.org/10.2142/biophys.44.s59_1
https://doi.org/10.2142/biophys.44.s59_1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Y. Fukuzaki, K. Shibuya, K. Doi, T. Ozawa, A. Nothnagel, T. Jike, S. Iwano, D. L. Jauncey, G. D. Nicolson, P. M. McCulloch
Publikováno v:
Journal of Geodesy; Aug2005, Vol. 79 Issue 6/7, p379-388, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Insect Physiology. 25:381-388
Increased oxygen supply to diapause eggs of the silkworm (O 2 -incubation) effectively prevented diapause initiation and induced the same pattern of glycogen, polyol and lactate levels as was observed in normal non-diapause eggs. Sensitivity to oxyge
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e0986c1de8d667f4f7eebd73d510bf5c
https://doi.org/10.1016/0022-1910(79)90003-9
https://doi.org/10.1016/0022-1910(79)90003-9