Zobrazeno 1 - 10
of 59
pro vyhledávání: '"Y Avrahami"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Y. Avrahami, E. Zolotoyabko
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 85:6447-6452
The ability of high-resolution x-ray diffraction, as a nondestructive method, to provide information on atomic diffusion is analyzed. The analysis focuses on studying Ti-diffused waveguide layers of LiNbO3 crystals for optoelectronic applications. Sa
Publikováno v:
Journal of Crystal Growth. :264-269
The ability of high-resolution X-ray diffraction to provide information on atomic diffusion is analyzed, the focus being on the thin film crystalline structures important to modern microelectronics and optoelectronics. Special attention is paid to th
Publikováno v:
Physica B: Condensed Matter. 248:358-365
The influence of surface acoustic waves (SAW) on grazing incidence diffraction (GID) and high resolution X-ray diffraction in Bragg-geometry (HRXD) was investigated on high-quality YZ-cut LiNbO3 single crystals. αf-resolved GID-profiles of the (00.6
Publikováno v:
Il Nuovo Cimento D. 19:455-463
X-ray diffraction under grazing incidence and exit angles,α i andα f (GII) was used for the first time to study longitudinal displacements in surface acoustic waves (SAW) propagating on LiNbO3 single crystals. Theα f-resolved (006)-diffraction spe
Publikováno v:
Materials Letters. 27:17-20
He-implanted optical waveguides in Y-cut LiNbO 3 wafers were studied by means of conventional high-resolution and grazing incidence X-ray diffraction. The depth-resolved strain profiles were derived from the measured rocking curves, depending on the