Zobrazeno 1 - 10
of 55
pro vyhledávání: '"Xiong, H.D."'
Autor:
Xiong, H.D., Heh, D., Gurfinkel, M., Li, Q., Shapira, Y., Richter, C., Bersuker, G., Choi, R., Suehle, J.S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):2230-2234
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 72(1):362-366
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 72(1):50-54
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Xiong, H.D., Dawei Heh, Shuo Yang, Xiaoxiao Zhu, Gurfinkel, M., Bersuker, G., Ioannou, D.E., Richter, C.A., Cheung, K.P., Suehle, J.S.
Publikováno v:
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2008, p319-323, 5p
Autor:
Richter, C.A., Xiong, H.D., Xiaoxiao Zhu, Wenyong Wang, Stanford, V.M., Qiliang Li, Ioannou, D.E., Woong-Ki Hong, Takhee Lee
Publikováno v:
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2008, p39-45, 7p
Publikováno v:
2008 8th IEEE Conference on Nanotechnology; 2008, p526-529, 4p
Autor:
Xiong, H.D., Wenyong Wang, Qiliang Li, Richter, C.A., Suehle, J.S., Woong-Ki Hong, Takhee Lee, Fleetwood, D.M.
Publikováno v:
2007 7th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE NANO); 2007, p1139-1143, 5p
Publikováno v:
2007 7th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE NANO); 2007, p141-145, 5p
Autor:
Xiong, H.D., Suehle, J.S.
Publikováno v:
2006 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2006, p111-115, 5p