Zobrazeno 1 - 10
of 930 936
pro vyhledávání: '"X. W. An"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zubkov, Sergei V.1 (AUTHOR) svzubkov61@mail.ru, Parinov, Ivan A.2 (AUTHOR) parinov_ia@mail.ru, Nazarenko, Alexander V.1,3 (AUTHOR) alex_v_nazarenko@mail.ru
Publikováno v:
Materials (1996-1944). Sep2024, Vol. 17 Issue 18, p4455. 14p.
Publikováno v:
Acta Physica Polonica: A. Aug2024, Vol. 146 Issue 2, p143-153. 11p.
Autor:
Anas Siddiqui, Nicholas D. M. Hine
Publikováno v:
npj Computational Materials, Vol 10, Iss 1, Pp 1-11 (2024)
Abstract Machine Learned Interatomic Potentials (MLIPs) combine the predictive power of Density Functional Theory (DFT) with the speed and scaling of interatomic potentials, enabling theoretical spectroscopy to be applied to larger and more complex s
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f41f1865b9014efab106368796512991
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kalha, Curran, Thakur, Pardeep K., Lee, Tien-Lin, Reisinger, Michael, Zechner, Johannes, Nelhiebel, Michael, Regoutz, Anna
Interdiffusion phenomena between adjacent materials are highly prevalent in semiconductor device architectures and can present a major reliability challenge for the industry. To fully capture and better understand these phenomena, experimental approa
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2301.02577
