Výsledky vyhledávání

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Silicon wafer cleaning processes and ozone oxide growth as studied by angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy (ARXPS) and ellipsometry

Autor: S. Marthon, X. Rochet, Denis Rouchon, A. Michallet, A. Ermolieff, F. Tardif, O. Renault

Publikováno v: Surface and Interface Analysis. 33:433-436

Knowledge of silicon oxide layer thickness and stoichiometry is essential for the integration of new dielectric materials. Among the various ways of obtaining ultrathin silicon oxides, chemically grown oxides are a promising choice. Different cleanin

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::20c3f66340efa2f2e6d98a9cb0e17c9f
https://doi.org/10.1002/sia.1230

Zobrazit plný text záznamu

Thin-film-based scintillators for hard x-ray microimaging detectors: the ScinTAXProject

Autor: K. Dupré, Alexander Rack, Heinrich Riesemeier, Angelica Cecilia, P.-A. Douissard, T. Martin, Tilo Baumbach, V. Wesemann, X. Rochet, M. Couchaud, M. Radtke

Publikováno v: SPIE Proceedings.

The project Scin TAX developed novel thin scintillating films for the application in high performance X-ray imaging and subsequent introduced new X-ray detectors to the market. To achieve this aim lutetium orthosilicate (LSO) scintillators doped with

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4fe14990f1cedd2d5e63ec8d93ad31ae
https://doi.org/10.1117/12.2060599

Zobrazit plný text záznamu

A versatile indirect detector design for hard X-ray microimaging

Autor: Linda Luquot, P.-A. Douissard, X Chapel, Tilo Baumbach, Xianghui Xiao, Lukas Helfen, T. Martin, Angelica Cecilia, T. van de Kamp, J Meinhardt, X. Rochet, Alexander Rack

Publikováno v: Journal of Instrumentation
Journal of Instrumentation, IOP Publishing, 2012, 7 (09), pp.P09016-P09016. ⟨10.1088/1748-0221/7/09/P09016⟩
Journal of Instrumentation 7, P09016 (2012). doi:10.1088/1748-0221/7/09/P09016

Journal of Instrumentation 7, P09016 (2012). doi:10.1088/1748-0221/7/09/P09016
Published by Inst. of Physics, London

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ffebe8006a8f70fa8110a03fcf939008
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/229801

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání