Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"X-ray polarization analyzer"'
Autor:
Jean-Christophe Peffen, F. Yakhou-Harris, N. B. Brookes, Lucio Braicovich, Giacomo Claudio Ghiringhelli, Christian Morawe, Ratchadaporn Supruangnet
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
On the upgraded ESRF soft x-ray beamline ID32 a new spectrometer for Resonant X-ray Inelastic Scattering (RIXS) will be installed. To operate in fully polarized mode, a polarimeter will be inserted in the instrument to measure simultaneously the ener
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a0e91521a4c8f999972297376dbf15f4
https://doi.org/10.1117/12.2061827
https://doi.org/10.1117/12.2061827
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.