Zobrazeno 1 - 10
of 223
pro vyhledávání: '"X-ray photoelectron diffraction"'
Autor:
Michael Weinl, Frank Müller, Matthias Schreck, Karin Jacobs, Samuel Grandthyll, Jens-Uwe Neurohr, Bernd Uder, Anne Holtsch
The epitaxial growth of graphene via chemical vapor deposition (CVD) of an acetone/argon mixture on freestanding single-crystal Cu(111) wafers offers the possibility to produce large-scale graphene of nearly uniform orientation. These Cu(111) substra
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3825b232a7022e90f98eb43e408235b6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Charlotte E. Sanders, Silvano Lizzit, Davide Curcio, Ann Julie Holt, Marco Bianchi, Jeppe V. Lauritsen, Jonathan Rodríguez-Fernández, Zhaozong Sun, Yongxin Yao, Philip Hofmann, Nicola Lanatà, Yu Zhang, Sahar Pakdel, Paolo Lacovig
Publikováno v:
Holt, A J U, Pakdel, S, Rodriguez-Fernandez, J, Zhang, Y X, Curcio, D, Sun, Z, Lacovig, P, Yao, Y-X, Lauritsen, J, Lizzit, S, Lanata, N, Hofmann, P, Bianchi, M & Sanders, C E 2021, ' Electronic properties of single-layer CoO2/Au(111) ', 2D materials, vol. 8, no. 3, 035050 . https://doi.org/10.1088/2053-1583/ac040f
We report direct measurements via angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) of the electronic dispersion of single-layer CoO$_2$. The Fermi contour consists of a large hole pocket centered at the $\overline{\Gamma}$ point. To interpret the AR
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2322a1e240a3f6da2dd56ec975f452a3
http://arxiv.org/abs/2104.02791
http://arxiv.org/abs/2104.02791
Autor:
Schmitz, Marie
This work deals with the analysis of the structural arrangement and the chemical properties of two silicon-based surface systems. The investigation is performed using x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), x-ray photoelectron diffraction (XPD), and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::659a412a2aeec4c5cc7327ad097084e5
http://hdl.handle.net/2003/40757
http://hdl.handle.net/2003/40757
Publikováno v:
Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 257:147201. Elsevier
The observation of structural distortions in complex oxides is becoming more important in order to explain their macroscopic behavior. X-ray photoelectron diffraction is an excellent technique to study the crystal structure and potentially observe ox
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.