Zobrazeno 1 - 10
of 178
pro vyhledávání: '"X-ray diffuse scattering"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dmitrii Irzhak, Dmitry Roshchupkin
Publikováno v:
Materials, Vol 15, Iss 21, p 7692 (2022)
X-ray diffuse scattering from the Ca3NbGa3Si2O14 (CNGS) crystal was measured with a triple axis X-ray diffractometer under the conditions of an external electric field. It is found that the nature of the intensity distribution of the asymmetrical par
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e082964c51e34c4db6edc4fc1f974e22
Autor:
Hashizume, H., Miya, S., Tanaka, T., Ishimatsu, N., Yamaguchi, Y., Hosoito, N., Sakuma, A., Srajer, G.
Publikováno v:
Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 1999 Oct . 357(1761), 2817-2825.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/55272
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tsunetomo Yamada, Hiroyuki Takakura, Holger Euchner, Cesar Pay Gómez, Alexei Bosak, Pierre Fertey, Marc de Boissieu
Publikováno v:
IUCrJ, Vol 3, Iss 4, Pp 247-258 (2016)
The detailed atomic structure of the binary icosahedral (i) ScZn7.33 quasicrystal has been investigated by means of high-resolution synchrotron single-crystal X-ray diffraction and absolute scale measurements of diffuse scattering. The average atomic
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/224bfb0d78e34cf9b8f20b0fc0754e81
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Helmut Cölfen, Hans-Beat Bürgi, Dmitry Chernyshov, Michal Stekiel, Aleksandra Chumakova, Alexei Bosak, Björn Wehinger, Bjoern Winkler
Publikováno v:
Acta Crystallographica Section B Structural Science, Crystal Engineering and Materials. 78:356-358
Using X-ray scattering, we measured detailed maps of the diffuse scattering intensity distribution and a number of phonon dispersion branches for a single crystal of inorganically formed natural calcite and for high-quality mesocrystals of biogenic c
Regularities of microdefect formation in silicon during heat treatment for internal getter synthesis
Autor:
Vladimir Ya. Reznik, M. I. Voronova, Vladimir T. Bublik, M. V. Mezhennyi, Kirill D. Shcherbachev
Publikováno v:
Modern Electronic Materials 5(3): 133-139
Modern Electronic Materials, Vol 5, Iss 3, Pp 133-139 (2019)
Modern Electronic Materials, Vol 5, Iss 3, Pp 133-139 (2019)
Gettering is defined as a process by which metal impurities in the device region are reduced by localizing them in predetermined, passive regions of the silicon wafer. Internal or intrinsic gettering is an effective way to reduce the contamination in
Autor:
Jean-Paul Pouget
Publikováno v:
Crystals, Vol 2, Iss 2, Pp 466-520 (2012)
We review structural aspects of the Bechgaard and Fabre salts in relationship with their electronic, magnetic and superconducting properties. We emphasize the role of bond and charge modulations of the quarter filled organic stack in the various inst
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/bb17a2eec5a14854a7079dbf8ebd601d
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.