Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"X filling techniques"'
Autor:
A. Balasubramaniyan, B. Ganesh, P. Selvakumar, S. Saravanan, R. Silambamuthan, R. Pannerselvam
Publikováno v:
Procedia Engineering. 38:655-660
Size and complexity have been major issues for System-on-a-Chip (SoC) testing. Transition analysis plays a significant role in power consideration of SoC testing. Transition is directly propositional to the power. This paper is based on finding trans
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::22089c65314b2a03b92a7f0b905f831b
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.