Výsledky vyhledávání - "X filling techniques"

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

An Efficient SIC Generator Using X Filling Techniques for Low Power Scan Based BIST

Autor: Sabir Hussain

Publikováno v: International journal of simulation: systems, science & technology.

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::db380241194b5f9c780c585c0a1aabfa
https://doi.org/10.5013/ijssst.a.18.02.10

Zobrazit plný text záznamu

Low power and high fault coverage SIC reseeding TPG using x-filling techniques for Scan BIST

Autor: Sabir Hussain

Publikováno v: International Journal of Engineering & Technology. 7:220

This paper has been withdrawn.

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6297076856cfb4050d3393d9c472673
https://doi.org/10.14419/ijet.v7i1.2.9232

Zobrazit plný text záznamu

Transition Analysis for Power Reduction in SoC

Autor: A. Balasubramaniyan, B. Ganesh, P. Selvakumar, S. Saravanan, R. Silambamuthan, R. Pannerselvam

Publikováno v: Procedia Engineering. 38:655-660

Size and complexity have been major issues for System-on-a-Chip (SoC) testing. Transition analysis plays a significant role in power consideration of SoC testing. Transition is directly propositional to the power. This paper is based on finding trans

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::22089c65314b2a03b92a7f0b905f831b

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Temperature-Aware X-filling for Very Large Scale Integrated Circuits.

Autor: KARUNAMURTHY, Thilagavathi¹, SATHASIVAM, Sivanantham¹ ssivanantham@vit.ac.in

Publikováno v: Gazi University Journal of Science. 2019, Vol. 32 Issue 2, p572-580. 9p.

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Low-Power Scan Testing: A Scan Chain Partitioning and Scan Hold Based Technique.

Autor: Arvaniti, Efi, Tsiatouhas, Yiorgos

Publikováno v: Journal of Electronic Testing; Jun2014, Vol. 30 Issue 3, p329-341, 13p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

On X-Variable Filling and Flipping for Capture-Power Reduction in Linear Decompressor-Based Test Compression Environment.

Autor: Liu, Xiao, Xu, Qiang

Publikováno v: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems; Nov2012, Vol. 31 Issue 11, p1743-1753, 11p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

LPTest: a Flexible Low-Power Test Pattern Generator.

Autor: Meng-Fan Wu, Kai-Shun Hu, Jiun-Lang Huang

Publikováno v: Journal of Electronic Testing; Dec2009, Vol. 25 Issue 6, p323-335, 13p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment.

Autor: Meng-Fan Wu, Jiun-Lang Huang, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase

Publikováno v: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems; Nov2009, Vol. 28 Issue 11, p1767-1776, 10p, 10 Diagrams, 2 Charts, 3 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání