Zobrazeno 1 - 10
of 283
pro vyhledávání: '"X W Lin"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Insect Molecular Biology. 30:508-518
MEK/ERK signalling has been identified as a key factor that terminates diapause in Sarcophaga crassipalpis and Bombyx mori. Paradoxically, high p-MEK/p-ERK signalling induces diapause in pupae of the moth Helicoverpa armigera; however, the regulatory
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::88f3059ec915eeffa9375b4cf35ef12b
https://doi.org/10.1111/imb.12721
https://doi.org/10.1111/imb.12721
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
A. Nannipieri, Munkang Choi, P. Asenov, D. Sherlekar, Jaehyun Lee, L. S. Melvin, L. Sponton, Binjie Cheng, S. Jones, X-W. Lin, Victor Moroz, Jacky Huang
Publikováno v:
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Instead of marching from one crisply defined technology node to the next with an uncertain timeline, industry is transitioning toward annual technology updates driven by a schedule, but with an uncertain transistor density increase. Full node updates
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::46a39fd7c093310b642aea047fcd08e0
https://doi.org/10.1109/iedm13553.2020.9372010
https://doi.org/10.1109/iedm13553.2020.9372010