Zobrazeno 1 - 10
of 254
pro vyhledávání: '"Worst case error"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mauro Passacantando, Fabio Raciti
Publikováno v:
Algorithms, Vol 16, Iss 10, p 458 (2023)
We consider a class of finite-dimensional variational inequalities where both the operator and the constraint set can depend on a parameter. Under suitable assumptions, we provide new estimates for the Lipschitz constant of the solution, which consid
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b66a94b817db48aca6e2da69abd5de15
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Joe, S.
Publikováno v:
SIAM Journal on Numerical Analysis, 2004 Jan 01. 41(4), 1465-1486.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/4101178
Autor:
Sloan, I. H., Joe, S.
Publikováno v:
SIAM Journal on Numerical Analysis, 2003 Jan 01. 40(5), 1650-1665.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/4100924
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond ISBN: 9781003338994
This article examines the verification procedure of coplanar calibration standards based on the calibration comparison technique. For the first time, different commercially available alumina calibration substrates were compared using the NIST multili
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d2609a5f8e3723e3e6d4cb7935e40c4d
https://doi.org/10.1201/9781003338994-20
https://doi.org/10.1201/9781003338994-20