Zobrazeno 1 - 10
of 67
pro vyhledávání: '"Wolstenholme, John"'
Autor:
Wolstenholme, John
This book discusses the use of AES and SAM for the characterization of a wide range of technological materials. These include metals and alloys, semiconductors, nanostructures, and insulators. Its value as a tool for high-resolution elemental imaging
Publikováno v:
Tizard Learning Disability Review, 2014, Vol. 19, Issue 2, pp. 90-95.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/TLDR-01-2014-0003
Publikováno v:
Tizard Learning Disability Review, 2008, Vol. 13, Issue 3, pp. 26-34.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/13595474200800026
Autor:
Wolstenholme, John
Publikováno v:
Microelectronics International: An International Journal, 2008, Vol. 25, Issue 3.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
WOLSTENHOLME, JOHN B.
Publikováno v:
Journal of the Royal Institute of Public Health, 1907 Sep 01. 15(9), 555-559.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/45163753
Autor:
Livy, John, Millington, John, Wolstenholme, John H., Pendlebury, James, Garstang, T. B., Mallett, George, Ferguson, Frederick, Cawthorne, B., Pilkington, Margaret, Aikenhead, John
Publikováno v:
Association Medical Journal, 1856 Nov . 4(202), 984-985.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/25497665
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.