Výsledky vyhledávání - "Woffinden, G.A."

Akademický článek

Comparison and implications of charge collection measurements in silicon and InGaAs irradiated by energetic protons and neutrons.

Autor: Normand, E., Oberg, D.L., Wert, J.L., Majewski, P.P., Woffinden, G.A., Satoh, S., Sasaki, K., Tverskoy, M.G., Miroshkin, V.V., Goleminov, N., Wender, S.A., Gavron, A.

Publikováno v: IEEE Transactions on Nuclear Science; 1995, Vol. 42 Issue 6, p1815-1822, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Cosmic ray neutron-induced soft errors in sub-half micron CMOS circuits.

Autor: Tosaka, Y., Satoh, S., Itakura, T., Suzuki, K., Sugii, T., Ehara, H., Woffinden, G.A.

Publikováno v: IEEE Electron Device Letters; 1997, Vol. 18 Issue 3, p99-101, 3p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Impact of cosmic ray neutron induced soft errors on advanced submicron CMOS circuits.

Autor: Tosaka, Y., Satoh, S., Suzuki, K., Sugii, T., Ehara, H., Woffinden, G.A., Wender, S.A.

Publikováno v: 1996 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers; 1996, p148-149, 2p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.