Zobrazeno 1 - 10 of 664 pro vyhledávání: '"Wittmaack, K."'
1
Akademický článek
Transient Phenomena and Impurity Relocation in SIMS Depth Profiling using Oxygen Bombardment: Pursuing the Physics to Interpret the Data [and Discussion]
Autor: Wittmaack, K., Drummond, I. W.
Publikováno v: Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 1996 Nov . 354(1719), 2731-2764.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/54738
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Rapid-relocation model for describing high-fluence retention of rare gases implanted in solids
Autor: Wittmaack, K.
Publikováno v: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2009 267(17):2846-2857
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Gas-phase ionisation of sputtered rare gas atoms
Autor: Wittmaack, K.
Publikováno v: In International Journal of Mass Spectrometry 2008 269(1):24-33
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
SIMS analysis of xenon and krypton in uranium dioxide: A comparison of two models of gas-phase ionisation
Autor: Wittmaack, K.
Publikováno v: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2008 266(24):5151-5158
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
TOF-SIMS characterisation of spark-generated nanoparticles made from pairs of Ir–Ir and Ir–C electrodes
Autor: Szymczak, W., Menzel, N., Kreyling, W.G., Wittmaack, K.
Publikováno v: In International Journal of Mass Spectrometry 15 July 2006 254(1-2):70-84
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
An overview on bioaerosols viewed by scanning electron microscopy
Autor: Wittmaack, K. *, Wehnes, H., Heinzmann, U., Agerer, R.
Publikováno v: In Science of the Total Environment 2005 346(1):244-255
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Towards a realistic description of the contribution of primary and secondary aerosols to ambient particle number and mass distributions
Autor: Wittmaack, K. *
Publikováno v: In Journal of Aerosol Science 2004 35(5):611-620
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Ion-to-neutral conversion in time-of-flight secondary ion mass spectrometry
Autor: Szymczak, W., Wittmaack, K.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2003 203:170-174
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Apparent and real transient effects in SIMS depth profiling using oxygen bombardment
Autor: Wittmaack, K.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2003 203:20-26
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje