Zobrazeno 1 - 10
of 27
pro vyhledávání: '"Withrow TJ"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Danilchenko A, Balachandran R, Toennies JL, Baron S, Munske B, Fitzpatrick JM, Withrow TJ, Webster RJ 3rd, Labadie RF, Danilchenko, Andrei, Balachandran, Ramya, Toennies, Jenna L, Baron, Stephan, Munske, Benjamin, Fitzpatrick, J Michael, Withrow, Thomas J, Webster, Robert J 3rd, Labadie, Robert F
Publikováno v:
Otology & Neurotology; 2011 Jan, Vol. 32 Issue 1, p11-16, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE journal of biomedical and health informatics [IEEE J Biomed Health Inform] 2019 Jul; Vol. 23 (4), pp. 1631-1638. Date of Electronic Publication: 2018 Oct 04.
Autor:
Dillon NP; Department of Mechanical Engineering, Vanderbilt University , 2301 Vanderbilt Place , PMB 351592 , Nashville, TN 37235 e-mail: neal.p.dillon@vanderbilt.edu., Balachandran R; Department of Otolaryngology, Vanderbilt University Medical Center , 1215 21st Avenue South , MCE 10450 , Nashville, TN 37232 e-mail: ramya.balachandran@vanderbilt.edu., Fitzpatrick JM; Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University , 2301 Vanderbilt Place , PMB 351679 , Nashville, TN 37235 e-mail: j.michael.fitzpatrick@vanderbilt.edu., Siebold MA; Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University , 2301 Vanderbilt Place , PMB 351679 , Nashville, TN 37235 e-mail: michael.a.siebold@vanderbilt.edu., Labadie RF; Department of Otolaryngology, Vanderbilt University Medical Center , 1215 21st Avenue South , MCE 10450 , Nashville, TN 37232 e-mail: robert.labadie@vanderbilt.edu., Wanna GB; Department of Otolaryngology, Vanderbilt University Medical Center , 1215 21st Avenue South , MCE 10450 , Nashville, TN 37232 e-mail: george.wanna@vanderbilt.edu., Withrow TJ; Department of Mechanical Engineering, Vanderbilt University , 2301 Vanderbilt Place , PMB 351592 , Nashville, TN 37235 e-mail: thomas.j.withrow@vanderbilt.edu., Webster RJ 3rd; Department of Mechanical Engineering, Vanderbilt University , 2301 Vanderbilt Place , PMB 351592 , Nashville, TN 37235 e-mail: robert.webster@vanderbilt.edu.
Publikováno v:
Journal of medical devices [J Med Device] 2015 Sep; Vol. 9 (3), pp. 0310031-310037.
Autor:
Dillon NP; Vanderbilt University, Department of Mechanical Engineering, Nashville, Tennessee, USA., Balachandran R; Vanderbilt University, Department of Otolaryngology, Nashville, Tennessee, USA., Dit Falisse AM; Université Catholique de Louvain, Ecole Polytechnique, Louvain-La-Neuve, Belgium., Wanna GB; Vanderbilt University, Department of Otolaryngology, Nashville, Tennessee, USA., Labadie RF; Vanderbilt University, Department of Otolaryngology, Nashville, Tennessee, USA., Withrow TJ; Vanderbilt University, Department of Mechanical Engineering, Nashville, Tennessee, USA., Fitzpatrick JM; Vanderbilt University, Department of Electrical Engineering and Computer Science, Nashville, Tennessee, USA., Webster RJ 3rd; Vanderbilt University, Department of Mechanical Engineering, Nashville, Tennessee, USA ; Vanderbilt University, Department of Otolaryngology, Nashville, Tennessee, USA.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering [Proc SPIE Int Soc Opt Eng] 2014 Mar 12; Vol. 9036, pp. 903614.