Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Wipf, Ch."'
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 January 2021 987
We report on a novel radiation hardening by design (RHBD) approach for mitigation of total ionization dose (TID) induced drain leakage currents and single event transient (SET) in digital circuits fabricated in a 130 nm bulk SiGe BiCMOS technology. I
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d5a9bfa2c0e5b0b1d60aa0e5830f21f1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2014 IEEE 14th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in Rf Systems; 2014, p89-91, 3p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.