Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Wilck, Noël"'
Autor:
König, Dirk, Frentzen, Michael, Hiller, Daniel, Wilck, Noël, Di Santo, Giovanni, Petaccia, Luca, Pìs, Igor, Bondino, Federica, Magnano, Elena, Mayer, Joachim, Knoch, Joachim, Smith, Sean C.
The electronic structure of low nanoscale (LNS) intrinsic silicon (i-Si) embedded in SiO2 vs. Si3N4 shifts away from vs. towards the vacuum level Evac, as described by the Nanoscale Electronic Structure Shift Induced by Anions at Surfaces (NESSIAS).
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2208.10792
Autor:
König, Dirk, Wilck, Noël, Hiller, Daniel, Berghoff, Birger, Meledin, Alexander, Di Santo, Giovanni, Petaccia, Luca, Mayer, Joachim, Smith, Sean, Knoch, Joachim
Publikováno v:
Phys. Rev. Applied 12, 054050 (2019)
Conventional impurity doping of deep nanoscale silicon (dns-Si) used in ultra large scale integration (ULSI) faces serious challenges below the 14 nm technology node. We report on a new fundamental effect in theory and experiment, namely the electron
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1905.06090
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
König, Dirk, Frentzen, Michael, Wilck, Noël, Berghoff, Birger, Píš, Igor, Nappini, Silvia, Bondino, Federica, Müller, Merlin, Gonzalez, Sara, Di Santo, Giovanni, Petaccia, Luca, Mayer, Joachim, Smith, Sean, Knoch, Joachim
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; 5/5/2021, Vol. 13 Issue 17, p20479-20488, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
König D; Integrated Materials Design Centre, University of New South Wales, NSW 2052, Australia.; Laboratory of Nanotechnology, Dept. of Microsystems Engineering (IMTEK), University of Freiburg, 79110, Germany., Hiller D; Laboratory of Nanotechnology, Dept. of Microsystems Engineering (IMTEK), University of Freiburg, 79110, Germany.; Research School of Engineering, The Australian National University, ACT 2601, Australia., Wilck N; Institute of Semiconductor Electronics (IHT), RWTH Aachen University, 52074, Germany., Berghoff B; Institute of Semiconductor Electronics (IHT), RWTH Aachen University, 52074, Germany., Müller M; Ernst-Ruska Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, RWTH Aachen University, 52074, Germany., Thakur S; Elettra Sincrotrone Trieste, Strada Statale 14 km 163.5, 34149 Trieste, Italy., Di Santo G; Elettra Sincrotrone Trieste, Strada Statale 14 km 163.5, 34149 Trieste, Italy., Petaccia L; Elettra Sincrotrone Trieste, Strada Statale 14 km 163.5, 34149 Trieste, Italy., Mayer J; Ernst-Ruska Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, RWTH Aachen University, 52074, Germany., Smith S; Integrated Materials Design Centre, University of New South Wales, NSW 2052, Australia.; National Compute Infrastructure (NCI), The Australian National University, ACT 2601, Australia., Knoch J; Institute of Semiconductor Electronics (IHT), RWTH Aachen University, 52074, Germany.
Publikováno v:
Beilstein journal of nanotechnology [Beilstein J Nanotechnol] 2018 Aug 23; Vol. 9, pp. 2255-2264. Date of Electronic Publication: 2018 Aug 23 (Print Publication: 2018).