Zobrazeno 1 - 10
of 17
pro vyhledávání: '"Wieland, M. J."'
Colostrum management is one of the key factors in successful calf management. The estimated prevalence of failure of passive transfer in dairy heifer calves is still surprisingly high at 19.2%. In a recent study by Morrill and others, 30% of nationwi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::064a25b56056a725d51b1cf4c10471bd
Autor:
Kuiper, V., Kampherbeek, B. J., Wieland, M. J., de Boer, G., ten Berge, G. F., Boers, J., Jager, R., van de Peut, T., Peijster, J. J. M., Slot, E., Steenbrink, S. W. H. K., Teepen, T. F., van Veen, A. H. V.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 3, Issue 1, p74700Q-74700Q-5, 5p
Autor:
Wieland, M. J., de Boer, G., ten Berge, G. F., Jager, R., van de Peut, T., Peijster, J. J. M., Slot, E., Steenbrink, S. W. H. K., Teepen, T. F., van Veen, A. H. V., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 2, Issue 1, p72710O-72710O-8, 8p
Autor:
Slot, E., Wieland, M. J., de Boer, G., Kruit, P., ten Berge, G. F., Houkes, A. M. C., Jager, R., van de Peut, T., Peijster, J. J. M., Steenbrink, S. W. H. K., Teepen, T. F., van Veen, A. H. V., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211P-69211P-9, 9p
Autor:
Chang, S. M., Lin, S. J., Lin, C. A., Chen, J. H., Gau, T. S., Lin, Burn J., Veltman, P., Hanfoug, R., Slot, E., Wieland, M. J., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211R-69211R-9, 9p
Autor:
Steenbrink, S. W. H. K., Kampherbeek, B. J., Wieland, M. J., Chen, J. H., Chang, S. M., Pas, M., Kretz, J., Hohle, C., van Steenwinckel, D., Manakli, S., Le-Denmat, J., Pain, L.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211T-69211T-10, 10p
Autor:
Teepen, T. F., van Veen, A. H. V., van't Spijker, H., Steenbrink, S. W. H. K., van Zuuk, A., Heerkens, C. Th. H., Wieland, M. J., van Druten, N. J., Kruit, P.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2005, Vol. 23 Issue 2, p359-369, 11p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2000, Vol. 18 Issue 1, p117-121, 5p
Autor:
Tong, William M., Resnick, Douglas J., de Boer, G., Dansberg, M. P., Jager, R., Peijster, J. J. M., Slot, E., Steenbrink, S. W. H. K., Wieland, M. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2013, Vol. 8680 Issue: 1 p86800O-86800O-12, 8593213p
Autor:
Tong, William M., Resnick, Douglas J., Belledent, J., Berglund, G. Z. M., Brandt, P. L., Bérard-Bergery, S., Wieland, M. J., Pain, L.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2013, Vol. 8680 Issue: 1 p86800J-86800J-20, 8593221p