Zobrazeno 1 - 10
of 48
pro vyhledávání: '"Wichmann, Nicolas"'
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 15 June 2019 96:41-45
Autor:
Shi, Ming, Saint-Martin, Jérôme, Bournel, Arnaud, Querlioz, Damien, Wichmann, Nicolas, Bollaert, Sylvain, Danneville, François, Dollfus, Philippe
Publikováno v:
In Solid State Electronics September 2013 87:51-57
Publikováno v:
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
XXIIèmes Journées Nationales Microondes
XXIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2022, Limoges, France
XXIIèmes Journées Nationales Microondes
XXIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2022, Limoges, France
National audience; Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4254::1c78345fa509799fc8490caa8ca52f50
https://hal.science/hal-03702659
https://hal.science/hal-03702659
Autor:
García Vasallo, Beatriz, González Sánchez, Tomás, Talbo, Vincent, Lechaux, Yoann, Wichmann, Nicolas, Bollaert, Sylvain, Mateos López, Javier
Publikováno v:
GREDOS. Repositorio Institucional de la Universidad de Salamanca
instname
instname
[EN]III-V Impact-ionization (II) metal-oxide-semiconductor FETs (I-MOSFETs) and tunnel FETs (TFETs) are being explored as promising devices for low-power digital applications. To assist the development of these devices from the physical point of view
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5064604659b0cbe064f52287d3beb12f
http://hdl.handle.net/10366/138063
http://hdl.handle.net/10366/138063
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Roelens, Yannick, Olivier, A., Desplanque, L., Noudeviwa, A., Danneville, Francois, Wichmann, Nicolas, Wallart, X., Bollaert, S.
Publikováno v:
Proceedings of the 68th Device Research Conference, DRC 2010
68th Device Research Conference, DRC 2010
68th Device Research Conference, DRC 2010, 2010, United States. pp.53-54, ⟨10.1109/DRC.2010.5551945⟩
68th Device Research Conference, DRC 2010
68th Device Research Conference, DRC 2010, 2010, United States. pp.53-54, ⟨10.1109/DRC.2010.5551945⟩
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4da67c6e06223e8c138a20a501a41a3c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00549924
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00549924
Autor:
Ridaoui, Mohamed, Fadgie-Djomkam, Alain-Bruno, Pastorek, Matej, Wichmann, Nicolas, Jaouad, Abdelatif, Maher, Hassan, Bollaert, Sylvain
Publikováno v:
2016 11th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC); 2016, p173-176, 4p
Autor:
García Vasallo, Beatriz, Wichmann, Nicolas, Bollaert, Sylvain, Roelens, Yannick, Cappy, Alain, González Sánchez, Tomás, Pardo Collantes, Daniel, Mateos López, Javier
Publikováno v:
GREDOS. Repositorio Institucional de la Universidad de Salamanca
instname
instname
Se han estudiado las características estáticas y dinámicas de HEMTs de doblre puerta (DG-HEMTs) por medio de simulaciones Monte Carlo, y se han comparado con las de los HEMTs de puerta única. Las simulaciones reproducen adecuadamente los resultad
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::cff5c81f762ff4455adf4be7a8afa92b
http://hdl.handle.net/10366/55887
http://hdl.handle.net/10366/55887
Autor:
Wichmann, Nicolas, Shchepetov, A., Duszynski, I., Roelens, Yannick, Wallart, X., Dambrine, Gilles, Cappy, A., Bollaert, S.
Publikováno v:
Actes des 15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007
15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007
15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007, 2007, France. pp.1D20
15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007
15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007, 2007, France. pp.1D20
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::96310c86c623d85bc1a50e1ac67dfb07
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00284471
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00284471