Zobrazeno 1 - 10
of 367
pro vyhledávání: '"White, M. E."'
Autor:
Borgatti, F., Berger, J. A., Céolin, D., Zhou, J. S., Kas, J. J., Guzzo, M., McConville, C. F., Offi, F., Panaccione, G., Regoutz, A., Payne, D. J., Rueff, J. -P., Bierwagen, O., White, M. E., Speck, J. S., Gatti, M., Egdell, R. G.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 97, 155102 (2018)
The longstanding problem of interpretation of satellite structures in core level photoemission spectra of metallic systems with a low density of conduction electrons is addressed using the specific example of Sb-doped SnO$_2$. Comparison of {\it ab i
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1710.08829
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Nov2009, Vol. 106 Issue 9, p093704-093710, 6p, 1 Diagram, 6 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Jul2009, Vol. 106 Issue 2, p024911-024916, 5p, 2 Diagrams, 3 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vasheghani Farahani, Sepehr, Veal, T. D. (Tim D.), Mudd, James J., Scanlon, David O., Watson, G. W., Bierwagen, O., White, M. E., Speck, James S., McConville, C. F. (Chris F.)
The surface band bending and electronic properties of SnO2(101) films grown on r-sapphire by plasma-assisted molecular beam epitaxy have been studied by Fourier-transform infrared spectroscopy (FTIR), x-ray photoemission spectroscopy (XPS), Hall effe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=core_ac_uk__::96b1e80fdfd19b74810370cb2c564d80
http://wrap.warwick.ac.uk/66585/1/WRAP_PhysRevB.90.155413.pdf
http://wrap.warwick.ac.uk/66585/1/WRAP_PhysRevB.90.155413.pdf
Autor:
Vantomme, A., Wu, M. F., Hogg, S., Langouche, G., Jacobs, K., Ingrid Moerman, White, M. E., O Donnell, K. P., Nistor, L., Landuyt, J., Bender, H.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Rutherford backscattering and channeling spectrometry (RBS), photoluminescence (PL) spectroscopy and transmission electron microscopy (TEM) have been used to investigate macroscopic and microscopic segregation in MOCVD grown InGaN layers. The PL peak
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.