Zobrazeno 1 - 10
of 177
pro vyhledávání: '"Whelan, P. R."'
Autor:
Whelan, Patrick R., Shen, Qian, Zhou, Binbin, Serrano, I. G., Kamalakar, M. Venkata, Mackenzie, David M. A., Ji, Jie, Huang, Deping, Shi, Haofei, Luo, Da, Wang, Meihui, Ruoff, Rodney S., Jauho, Antti-Pekka, Jepsen, Peter U., Bøggild, Peter, Caridad, José M.
Publikováno v:
2D Materials, 2020, 7, 3, 035009
We demonstrate terahertz time-domain spectroscopy (THz-TDS) to be an accurate, rapid and scalable method to probe the interaction-induced Fermi velocity renormalization {\nu}F^* of charge carriers in graphene. This allows the quantitative extraction
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2006.00486
Autor:
Mishra, N., Forti, S., Fabbri, F., Martini, L., McAleese, C., Conran, B., Whelan, P. R., Shivayogimath, A., Buß, L., Falta, J., Aliaj, I., Roddaro, S., Flege, J. I., Bøggild, P., Teo, K. B. K., Coletti, C.
Publikováno v:
Small, Volume15, Issue50 December 13, 2019 1904906
The adoption of graphene in electronics, optoelectronics and photonics is hindered by the difficulty in obtaining high quality material on technologically-relevant substrates, over wafer-scale sizes and with metal contamination levels compatible with
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1907.01610
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shivayogimath, Abhay, Thomsen, Joachim Dahl, Mackenzie, David M. A., Geisler, Mathias, Kling, Jens, Balogh, Zoltan Imre, Crovetto, Andrea, Whelan, Patrick R., Bøggild, Peter, Booth, Timothy J.
Only a few of the vast range of potential two-dimensional materials have been isolated or synthesised to date. Typically, 2D materials are discovered by mechanically exfoliating naturally occurring bulk crystals to produce atomically thin layers, aft
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1805.08002
Autor:
Whelan, Patrick R., Jessena, Bjarke S., Wang, Ruizhi, Luo, Birong, Stoot, Adam C., Mackenzie, David M. A., Braeuninger-Weimer, Philipp, Jouvray, Alex, Prager, Lutz, Camilli, Luca, Hofmann, Stephan, Bøggild, Peter, Booth, Timothy J.
Publikováno v:
Carbon, Volume 117, June 2017, Pages 75-81
Through a combination of monitoring the Raman spectral characteristics of 2D materials grown on copper catalyst layers, and wafer scale automated detection of the fraction of transferred material, we reproducibly achieve transfers with over 97.5% mon
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1805.05083
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.