Zobrazeno 1 - 10
of 17
pro vyhledávání: '"Wheeler, Jason W."'
Autor:
Szypryt, Paul, Nakamura, Nathan, Becker, Daniel T., Bennett, Douglas A., Dagel, Amber L., Doriese, W. Bertrand, Fowler, Joseph W., Gard, Johnathon D., Harris, J. Zachariah, Hilton, Gene C., Imrek, Jozsef, Jimenez, Edward S., Larson, Kurt W., Levine, Zachary H., Mates, John A. B., McArthur, D., Miaja-Avila, Luis, Morgan, Kelsey M., O'Neil, Galen C., Ortiz, Nathan J., Pappas, Christine G., Schmidt, Daniel R., Thompson, Kyle R., Ullom, Joel N., Vale, Leila, Vissers, Michael R., Walker, Christopher, Weber, Joel C., Wessels, Abigail L., Wheeler, Jason W., Swetz, Daniel S.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, vol. 33, no. 5, pp. 1-5, Aug. 2023, Art no. 2100705
We report on the 1,000-element transition-edge sensor (TES) x-ray spectrometer implementation of the TOMographic Circuit Analysis Tool (TOMCAT). TOMCAT combines a high spatial resolution scanning electron microscope (SEM) with a highly efficient and
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2212.12073
Autor:
Nakamura, Nathan, Szypryt, Paul, Dagel, Amber L., Alpert, Bradley K., Bennett, Douglas A., Doriese, W. Bertrand, Durkin, Malcolm, Fowler, Joseph W., Fox, Dylan T., Gard, Johnathon D., Goodner, Ryan N., Harris, J. Zachariah, Hilton, Gene C., Jimenez, Edward S., Kernen, Burke L., Larson, Kurt W., Levine, Zachary H., McArthur, Daniel, Morgan, Kelsey M., O'Neil, Galen C., Ortiz, Nathan J., Pappas, Christine G., Reintsema, Carl D., Schmidt, Daniel R., Schultz, Peter A., Thompson, Kyle R., Ullom, Joel N., Vale, Leila, Vaughan, Courtenay T., Walker, Christopher, Weber, Joel C., Wheeler, Jason W., Swetz, Daniel S.
X-ray nanotomography is a powerful tool for the characterization of nanoscale materials and structures, but is difficult to implement due to competing requirements on X-ray flux and spot size. Due to this constraint, state-of-the-art nanotomography i
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2212.10591
Autor:
Szypryt, Paul, Bennett, Douglas A., Boone, William J., Dagel, Amber L., Dalton, Gabriella, Doriese, W. Bertrand, Fowler, Joseph W., Garboczi, Edward J., Gard, Johnathon D., Hilton, Gene C., Imrek, Jozsef, Jimenez, Edward S., Kotsubo, Vincent Y., Larson, Kurt, Levine, Zachary H., Mates, John A. B., McArthur, Daniel, Morgan, Kelsey M., Nakamura, Nathan, O'Neil, Galen C., Ortiz, Nathan J., Pappas, Christine G., Reintsema, Carl D., Schmidt, Daniel R., Swetz, Daniel S., Thompson, Kyle R., Ullom, Joel N., Walker, Christopher, Weber, Joel C., Wessels, Abigail L., Wheeler, Jason W.
Publikováno v:
in IEEE Transactions on Applied Superconductivity, vol. 31, no. 5, pp. 1-5, Aug. 2021, Art no. 2100405
Feature sizes in integrated circuits have decreased substantially over time, and it has become increasingly difficult to three-dimensionally image these complex circuits after fabrication. This can be important for process development, defect analysi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2212.07460
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Thesis (S.M.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Mechanical Engineering, 2004.
Includes bibliographical references (p. 111-112).
Patients with neurological disorders, such as stroke survivors, can be treated with physical reha
Includes bibliographical references (p. 111-112).
Patients with neurological disorders, such as stroke survivors, can be treated with physical reha
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1721.1/32317
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nakamura, Nathan, Szypryt, Paul, Dagel, Amber L., Alpert, Bradley K., Bennett, Douglas A., Doriese, W. Bertrand, Durkin, Malcolm, Fowler, Joseph W., Fox, Dylan T., Gard, Johnathon D., Goodner, Ryan N., Harris, J. Zachariah, Hilton, Gene C., Jimenez, Edward S., Kernen, Burke L., Larson, Kurt W., Levine, Zachary H., McArthur, Daniel, Morgan, Kelsey M., O'Neil, Galen C., Ortiz, Nathan J., Pappas, Christine G., Reintsema, Carl D., Schmidt, Daniel R., Schulz, Peter A., Thompson, Kyle R., Ullom, Joel N., Vale, Leila, Vaughan, Courtenay T., Walker, Christopher, Weber, Joel C., Wheeler, Jason W., Swetz, Daniel S.
X-ray nanotomography has proven to be a powerful tool for the characterization of nanoscale materials and structures, such as energy storage devices and next-generation integrated circuits (ICs). In a nanotomography measurement the X-ray spot size mu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::86ab083455659a58c08cc938deb9e6db
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2012 Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society; 1/ 1/2012, p162-165, 4p