Výsledky vyhledávání - "Westendorp, J. F. M."

Conference

Influence of Phosphorus Dopant Concentration on Recrystallization of Buried Amorphous Layers in SI(100) Produced by Channeled Implants.

Autor: Schreutelkamp, R. J., Janssen, K. T. F., Saris, F. W., Westendorp, J. F. M., Kaim, R. E.

Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 01/29/1988, Vol. 128, pN.PAG-1, 1p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Surface composition analysis of HF-vapour-cleaned silicon by X-ray photoelectron spectroscopy.

Autor: Ermolieff, A., Martin, F., Amouroux, A., Marthon, S., Westendorp, J. F. M.

Publikováno v: Semiconductor Science & Technology; Feb1991, Vol. 6 Issue 2, p1-1, 1p

Zobrazit plný text záznamu