In situ X-ray measurements over large Q-space to study the evolution of oxide thin films prepared by RF sputter deposition.

Autor: Walter, P.^1,2 (AUTHOR) pwalter@slac.stanford.edu, Wernecke, J.¹ (AUTHOR), Scholz, M.¹ (AUTHOR), Reuther, D.¹ (AUTHOR), Rothkirch, A.¹ (AUTHOR), Haas, D.¹ (AUTHOR), Blume, J.¹ (AUTHOR), Resta, A.³ (AUTHOR), Vlad, A.³ (AUTHOR), Faley, O.⁴ (AUTHOR), Schipmann, S.⁴ (AUTHOR), Nent, A.⁴ (AUTHOR), Seeck, O.¹ (AUTHOR), Dippel, A.-C.¹ (AUTHOR), Klemradt, U.⁴ (AUTHOR)

Publikováno v: Journal of Materials Science. Jan2021, Vol. 56 Issue 1, p290-304. 15p.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.